白光干涉儀
  • 白光干涉儀

白光干涉儀

1.表面精糙度量測
2.三維形貌掃描
3.台階與深度
4.膜厚測量

白光干涉儀  

1.表面精糙度量測

2.三維形貌掃描

3.台階與深度

4.膜厚測量

相關產品

半導體測試探針卡

半導體測試探針卡

此網站使用cookies蒐集必要的使用者瀏覽行為，以讓我們能為您提供更好的瀏覽體驗。 瀏覽本網站，即表示您同意 線上隱私權聲明